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铝膜测厚仪

更新时间: 2022-10-24

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产品报价:

产品特点: 铝膜测厚仪主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的高精度测量,随着新型包装材料的发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层,因而极大提高了薄膜对气体的阻透性,铝膜的厚度直接影响膜阻透性,因而测试和控制铝膜厚度就尤为重要,该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。

AT-LM301铝膜测厚仪的详细资料:

产品介绍:

AT-LM301铝膜测厚仪

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主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的高精度测量,随着新型包装材料的发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层,因而极大提高了薄膜对气体的阻透性,铝膜的厚度直接影响膜阻透性, AT-LM301铝膜测厚仪因而测试和控制铝膜厚度就尤为重要,该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。

产品介绍:

本产品主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的高精度测量,随着新型包装材料的发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层,因而极大提高了薄膜对气体的阻透性,铝膜的厚度直接影响膜阻透性,因而测试和控制铝膜厚度就尤为重要,该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。

本产品按照国标GBT4957-2003涡流法原理制造,采用现在的触摸屏操控技术,产品新颖,具有测量精度高、稳定性好,既有直观厚度读数又有传统方欧显示。厚度标准由中国计量科学研究院测定,方欧参照国际GBT15717-1995电阻法,采用4294A型阻抗分析仪测定,方欧值能符合进口生产设备上方欧显示。

技术参数:

量程范围: 90-800 Å(用户需要量程可扩大到2000 Å)

方阻:    95-0.47Ω/□

分辨率:   1埃

测量准确度:  ≤±2%(F.S)

读数重现性(同一测试点):  10埃

应用对象 :  软包装新材料

注:1微米=1000纳米=10000 Å

售后服务:

感谢您的咨询山东安尼麦特仪器有限公司成立于2007年,在近十年的发展过程中一直致力于质量检测仪器的研发生产与销售,在生产经营过程中把产品质量作为企业的生命,对公司开发的每一款产品都精益求精。纵观人类科技发展的历史,我们坚信任何产品的诞生都依赖于技术的发展,任何技术的发展都源自于材料的探索,任何材料的探索都取决于工艺的进步,任何工艺的进步基于实验手段的支持,人类从不缺少想法,我们需要实现想法的手段。安尼麦特仪器将一如既往的为您的想法与创意提供手段。如有什么问题可以随时联系我公司客服人员,我们将全力为您做好售前,售中,售后服务。


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