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铝膜测厚仪铝膜测厚仪主要适用于薄膜、纸张等非金属软包装材料上铝层厚度的高精度测量，随着新型包装材料的发展，要求阻透性薄膜上真空沉积大约35nm的铝涂敷层，因而极大提高了薄膜对气体的阻透性，铝膜的厚度直接影响膜阻透性，因而测试和控制铝膜厚度就尤为重要，该产品调整参数还可对金、银等其他金属涂层的测量。
更新时间：2024-07-27产品型号：AT-LM301
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